演讲语言：英语
演讲专家：Lee Stauffer - 资深技术人员
Lee Stauffer是位于美国俄亥俄州克里夫兰市的吉时利仪器公司半导体测量组的资深技术专家。在加入吉时利之前，Stauffer曾参与设计卫星通信系统并在半导体原厂任过设备和产品工程师。

研讨会介绍

本期在线研讨会探讨在组件和工艺技术中日益重要的超快电流-电压（I-V）特性分析。常见应用包括闪存和相变存储器等非易失存储器（NVM）、绝缘体上硅（SOI）器件与复合半导体的等温特性分析以及高k电介质等新材料的瞬态特性。
超快I-V器件特性分析基础将主要介绍测量硬件和设置，包括探测台的接线。本期研讨会还将讨论典型的测试设置和常见误差源。最后，将给出一些器件测量的实例。

目标听众：
涉及材料、工艺和器件特性分析的学生、研究人员和工程师
需要了解这种有用的测量技术的实验室主管
负责器件和材料可靠性研究（WLR、ESD、闩锁效应latchup等）的工程师

美国吉时利仪器公司

美国吉时利仪器公司拥有60年的测试和测量的丰富经验，已经成为涵盖从DC(直流)到RF(射频)先进的电子测量仪器和系统的行业领导者。专为电子制造业对高性能的生产测试、工艺监控、产品的研究与开发方面的特殊需要与挑战，提供卓越的解决方案。凭藉在电子测试研发领域的优势，吉时利仪器公司已经成为一个在半导体、无线通讯、光电器件和其它精密电子测量领域世界级的测试技术领导者。吉时利仪器公司对客户的核心价值在于：将先进的精密测量技术与深入了解客户应用有机结合，从而帮助客户提高产品质量、产能与产量。

关于美国吉时利仪器公司更多信息，请查看公司官方网站：www.keithley.com.cn。