研讨会介绍本次研讨会将以霍尔效应的测量为主题，介绍它们与半导体材料和器件特征分析的关系。霍尔效应测量系统通常用于测量半导体参数，例如载流子迁移率和载流子浓度、霍尔系数和导电率以及导电型。
参加本次研讨会可以了解到：
•   什么是霍尔效应测量？
•   哪些人员会用到霍尔效应测量？
•   推动霍尔效应测量需求的行业趋势是什么？
•   在选择霍尔效应测量所需的设备时应注意哪些关键问题？
•   什么技术有助于确保高质量测量？
目标听众：
建议研究纳米材料等新材料电气特性的材料学家和物理学家，及进行太阳能/光伏应用薄膜开发，从事复合半导体材料工作，或研究碳基器件特性的工程师、材料学家和物理学家，以及特性分析实验室的全体管理人员和半导体材料和测试新手参加本期研讨会。Robert Green - 吉时利仪器高级市场开发经理
演讲专家：
Robert Green是吉时利仪器高级市场开发经理，专注于低电平测量应用。在吉时利工作的20年中，Mr. Green参与了包括皮安表、静电计、数字万用表和温度测量产品在内的许多不同产品的定义和推广。他获得了美国康奈尔大学电子工程学士学位和密苏里州圣路易斯华盛顿大学电子工程硕士学位。Mr. Green的联系邮箱是：rgreen@keithley.com。 公司介绍
美国吉时利仪器公司拥有60年的测试和测量的丰富经验，已经成为涵盖从DC(直流)到RF(射频)先进的电子测量仪器和系统的行业领导者。专为电子制造业对高性能的生产测试、工艺监控、产品的研究与开发方面的特殊需要与挑战，提供卓越的解决方案。凭藉在电子测试研发领域的优势，吉时利仪器公司已经成为一个在半导体、无线通讯、光电器件和其它精密电子测量领域世界级的测试技术领导者。吉时利仪器公司对客户的核心价值在于：将先进的精密测量技术与深入了解客户应用有机结合，从而帮助客户提高产品质量、产能与产量。关于美国吉时利仪器公司更多信息，请查看公司官方网站：www.keithley.com.cn。