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[已经举行的研讨会]  超快I-V器件特性分析基本原理
 
[研讨会简介]  本期在线研讨会探讨在组件和工艺技术中日益重要的超快电流-电压（I-V）特性分析。常见应用包括闪存和相变存储器等非易失存储器（NVM）、绝缘体上硅（SOI）器件与复合半导体的等温特性分析以及高k电介质等新材料的瞬态特性。
超快I-V器件特性分析基础将主要介绍测量硬件和设置，包括探测台的接线。本期研讨会还将讨论典型的测试设置和常见误差源。最后，将给出一些器件测量的实例。
目标听众：
涉及材料、工艺和器件特性分析的学生、研究人员和工程师
需要了解这种有用的测量技术的实验室主管
负责器件和材料可靠性研究（WLR、ESD、闩锁效应latchup等）的工程师
 
 
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