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[已经举行的研讨会]  闪存测试的新方法
 
[研讨会简介]  虽然闪存技术已经广泛应用，但是诸如多电平单位（MLC）等连续的研究进展的目标是实现更高的密度。同时，也出现了新的测量技术和功能：从用于开发的单颗晶体管分析到用于闪存生产的集成方案和自动化方案。
本期在线研讨会将首先回顾闪存技术测试基础，然后讨论FN（Fowler-Nordheim）和HEI（热电子注入）写入和擦除。接着讨论用于单颗闪存晶体管和闪存阵列测试的不同方面，包括标准晶体管特性分析、耐力和干扰测试。还将讨论MLC测试的脉冲保真度要求。这些应用的验证将使用吉时利最新的超快I-V测试方案以便更好地控制脉冲形状和幅度，进而非常适合于MLC闪存测试，并使用吉时利ACS软件以便管理测试场景的范围。
目标听众：
本期在线研讨会适合想了解闪存测试设置的人士和寻求测试方案的朋友参加。
 
 
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