内容介绍：USB，由于其快速、稳定、易用等特点，已经被广泛地应用于各种嵌入式系统中。恩智浦半导体拥有众多具有高性能USB控制器的ARM MCU，在市场上处于领先地位。本次研讨会将介绍如何基于Cortex-M3内核的LPC1800快速开发高速USB解决方案。主要包括以下内容： 1. USB基础知识；2. LPC1800中的USB接口；3. 开发基于LPC1800的高速USB解决方案 ；4. USB产品认证

内容介绍：Android的应用正在从智能手机到数字家庭领域延展。MIPS架构也在Android的普及浪潮中得到了更多的应用扩展。作为在数字家庭市场中份额第一的应用处理器架构，目前在移动应用中也开始了突破性发展。 作为新兴的应用平台，Android本身还在快速发展和成熟过程当中，本次研讨会将详细介绍MIPS如何帮助客户在MIPS架构上成功应用Android并取得竞争优势。

内容介绍：恩智浦半导体是ARM核MCU的领军企业，在ARM7、ARM9、Cortex-M0/M3/M4内核上都有品种丰富的产品阵容。其中不乏搭载高性能图形液晶（LCD）控制器的型号，它们支持几乎所有的液晶屏：从小分辨率的单色屏，直到高达1024x768分辨率的真彩屏，带给嵌入式产品以图文并茂的生动！恩智浦还开发了免费的SWIM图形库以支持图形应用的开发，同时也有很多第三方的图形库可供选择。本次研讨会将以恩智浦基于Cortex-M3的LPC1788为例，为您讲述： • 恩智浦MCU产品线及其中拥有LCD的成员 • LCD相关术语、技术，以及接口 • LCD控制器编程简介 • 与LCD相关的基础软件与开发工具 • 第三方的支持

内容介绍：腾华电子在上海成功举办了300人的技术研讨会，对NXP ARM内核MCU进行了介绍以及应用案例讲解。这次为大家带来的是本次MCU技术研讨会的产品介绍回顾，详细应用方案介绍请联系腾华电子。

内容介绍：您正在寻找一种低成本的高效方式来实现4K和多通道视频处理吗？视频领域正在向4K以上发展，需要进一步提高性能和带宽，系统开发更加复杂，成本也越来越高。 通过本次在线研讨会，了解Altera®器件产品和视频工作台怎样帮助您克服这些难题。您将了解到： • Altera FPGA降低了多通道视频处理应用的成本 • 视频工作台新的VIP组件库能够更灵活的实现未来的视频处理应用 • 可立即使用的参考设计完成4K分辨率上转换和下转换，帮助您迅速开始系统开发

内容介绍：在此次研讨会中宏力将着重介绍针对MCU的不同的工艺解决方案，包括宏力现有的整个MCU工艺平台，以及两个比较有差异化的技术平台，一个是低本高效的OTP工艺，另一个是嵌入式闪存工艺，同时对宏力半导体的公司概况做一个简单的介绍。

内容介绍：本次研讨会将以霍尔效应的测量为主题，介绍它们与半导体材料和器件特征分析的关系。霍尔效应测量系统通常用于测量半导体参数，例如载流子迁移率和载流子浓度、霍尔系数和导电率以及导电型。 参加本次研讨会可以了解到：  •  什么是霍尔效应测量？  •  哪些人员会用到霍尔效应测量？  •  推动霍尔效应测量需求的行业趋势是什么？  •  在选择霍尔效应测量所需的设备时应注意哪些关键问题？  •  什么技术有助于确保高质量测量？
目标听众： 建议研究纳米材料等新材料电气特性的材料学家和物理学家，及进行太阳能/光伏应用薄膜开发，从事复合半导体材料工作，或研究碳基器件特性的工程师、材料学家和物理学家，以及特性分析实验室的全体管理人员和半导体材料和测试新手参加本期研讨会。

内容介绍：本期研讨会旨在帮助可靠性工程师理解和运用超快I-V方法实现先进偏压温度不稳定性（BTI）的测量。此研讨会的第一部分详细分析了当前超薄薄膜晶体管正BTI和负BTI（PBTI和NBTI）原理的相关理论。第二部重点介绍了测量挑战并且定义了捕捉性能退化和恢复的最佳超快I-V测量方法。参加研讨会的网友将了解： • NBTI和PBTI建模的现有理论  • 分析BTI性能退化和恢复的相关挑战  • 建模和过程控制的先进测量技术  • 超快I-V测量的限制，包括约翰逊噪声等  • 测量系统性能分析的诀窍
目标听众：本期在线研讨会的目标听众是从事半导体可靠性分析工作的人员。该研讨会材料对致力于超薄薄膜晶体管可靠性研究，负责开发测试系统和方法的学生、技术人员、工程师和实验室管理人员有较大帮助。

内容介绍：目前市场上对于USB桥接方案的需求极为殷切，Silicon Labs提供了多种支持USB转串口协议的单芯片桥接器解决方案，可以很容易的在您的设计中添加USB接口，并广泛应用至各式各样的产品（如个人医疗设备、手机和无线电话、智能卡和存储卡的卡片阅读机、个人数字助理、MP3播放器、条形码读取器、无线调制解调器以及工业控制系统等）。这些方案预编程了所需的USB软件，因此您不需要熟悉USB规范就能简易上手。通过本次网络研讨会，您将了解到如何轻松添加USB接口到传统的串口应用。

内容介绍：电阻率是材料的基本特性并属于常规的电测量项目。具体采用的测量方法取决于材料类型是导体、绝缘体还是半导体。本期研讨会详细说明了为获得最佳测量结果使用的各种电阻率方法和技术。
与会听众将了解整块材料的电阻率测量基础。测量方法的变化取决于材料是导体、绝缘体还是半导体。一些具体测量方法包括金属材料的四线电阻测量，绝缘体材料的体电阻率和表面电阻率测量，以及半导体材料的4点共线探测和范德堡测量法。除讨论这些测量方法之外，还详细介绍了与这些方法有关的测量技术。讨论的测量技术和误差源包括静电干扰和屏蔽、漏电流和防护、热电EMF和失调补偿等。除使用正确的方法和技术以外，还必须使用合适的仪器完成所需测量。
目标听众：
推荐参加本期研讨会的观众是：需要对太阳能电池、塑料、纸张、轮胎、半导体等产品进行电阻率测试的材料研究人员、研究实验室、物理学家、大学和公司。