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Synopsys

内容介绍:多次可编程(MTP)非易失性存储器(NVM)可广泛的嵌入在多种应用,包括移动设备,电池管理IC,安全和加密内容保护的SoC,MEMS和传感器,以及RF/无线应用。成功将NVM IP导入生产的关键,在于硅的测试和认证。 这个研讨会将侧重于三个专题: • 检讨导入生产的整体策略,包括制造性,可靠性和监测方面的考虑 • 比较和对比包括商业和汽车级产品等不同的行业标准 • 了解Synopsys嵌入式非挥发性记忆体知识产权测试的策略和执行方法,如何提供SoC设计师可靠和合格的解决方案。
 
 
WPG Holdings

内容介绍:纵使目前 Android 平板的出货不如预期,但由于3G/4G通讯日益普及,云端服务也越来越多样化,平板计算机及其衍生产品显然仍是未来几年的3C 主角。此次研讨会大联大旗下友尚集团将以在三星ARM SoC多年的销售经验,以及自主开发的平板计算机解决方案,与各位分享平板计算机开发的思维与诉求,以及如何选择一个好的开发平台。除外,友尚也将分享Android所带出来的其他产品与商机,欢迎踊跃参加。
 
 
MIPS

内容介绍:Android的应用正在从智能手机到数字家庭领域延展。MIPS架构也在Android的普及浪潮中得到了更多的应用扩展。作为在数字家庭市场中份额第一的应用处理器架构,目前在移动应用中也开始了突破性发展。 作为新兴的应用平台,Android本身还在快速发展和成熟过程当中,本次研讨会将详细介绍MIPS如何帮助客户在MIPS架构上成功应用Android并取得竞争优势。
 
 
Tensilica

内容介绍:Tensilica公司提供业界领先的定制的处理器以及音频和基带IP。通过本次研讨会,您可以了解到如何将Tensilica处理器内核运用到您的SOC设计中以帮助您快速提高生产力。 1. 针对Tensilica DSP和控制器的可定制处理器技术的概述。您将会领略到运用Tensilica的自动化工具自定义处理器核是多么的便捷,也会发现为什么会想在下次设计中亲自使用一下Tensilica的产品,更能领略到Tensilica突出的性能。 2. 高效低功耗的音频处理DSP 3. 用于4G/LTE基带处理的DSP
 
 
FLUKE

内容介绍:大部分产品在研发阶段都需要进行热分析,目前红外热像检测是进行热分析最便捷、高效的方法。但在实际使用时,外壳遮挡、小目标、发射率等问题往往会阻碍红外热像仪拍摄准确、清晰的热图。本次技术交流针对这些难题,提出切实、有效的解决方案,使客户能够准确、快速地进行产品的热分析工作。
 
 
Altera

内容介绍:您正在寻找一种低成本的高效方式来实现4K和多通道视频处理吗?视频领域正在向4K以上发展,需要进一步提高性能和带宽,系统开发更加复杂,成本也越来越高。 通过本次在线研讨会,了解Altera®器件产品和视频工作台怎样帮助您克服这些难题。您将了解到: • Altera FPGA降低了多通道视频处理应用的成本 • 视频工作台新的VIP组件库能够更灵活的实现未来的视频处理应用 • 可立即使用的参考设计完成4K分辨率上转换和下转换,帮助您迅速开始系统开发
 
 
ADI

内容介绍:本研讨会探讨ADI公司的高速ADC行为建模工具ADIsimADC。我们将从定性角度说明ADIsimADC如何模拟ADC,何时及何处可以使用ADIsimADC,以及如何利用它来加快产品评估和系统原型开发。ADI公司诚挚邀请广大电子工程技术人员踊跃参加本次在线研讨会。
 
 
Keithley

内容介绍:本次研讨会将以霍尔效应的测量为主题,介绍它们与半导体材料和器件特征分析的关系。霍尔效应测量系统通常用于测量半导体参数,例如载流子迁移率和载流子浓度、霍尔系数和导电率以及导电型。 参加本次研讨会可以了解到:  •  什么是霍尔效应测量?  •  哪些人员会用到霍尔效应测量?  •  推动霍尔效应测量需求的行业趋势是什么?  •  在选择霍尔效应测量所需的设备时应注意哪些关键问题?  •  什么技术有助于确保高质量测量?
目标听众: 建议研究纳米材料等新材料电气特性的材料学家和物理学家,及进行太阳能/光伏应用薄膜开发,从事复合半导体材料工作,或研究碳基器件特性的工程师、材料学家和物理学家,以及特性分析实验室的全体管理人员和半导体材料和测试新手参加本期研讨会。
 
 
Keithley

内容介绍:本期研讨会旨在帮助可靠性工程师理解和运用超快I-V方法实现先进偏压温度不稳定性(BTI)的测量。此研讨会的第一部分详细分析了当前超薄薄膜晶体管正BTI和负BTI(PBTI和NBTI)原理的相关理论。第二部重点介绍了测量挑战并且定义了捕捉性能退化和恢复的最佳超快I-V测量方法。参加研讨会的网友将了解: • NBTI和PBTI建模的现有理论  • 分析BTI性能退化和恢复的相关挑战  • 建模和过程控制的先进测量技术  • 超快I-V测量的限制,包括约翰逊噪声等  • 测量系统性能分析的诀窍
目标听众:本期在线研讨会的目标听众是从事半导体可靠性分析工作的人员。该研讨会材料对致力于超薄薄膜晶体管可靠性研究,负责开发测试系统和方法的学生、技术人员、工程师和实验室管理人员有较大帮助。
 
 
Silicon Labs

内容介绍:目前市场上对于USB桥接方案的需求极为殷切,Silicon Labs提供了多种支持USB转串口协议的单芯片桥接器解决方案,可以很容易的在您的设计中添加USB接口,并广泛应用至各式各样的产品(如个人医疗设备、手机和无线电话、智能卡和存储卡的卡片阅读机、个人数字助理、MP3播放器、条形码读取器、无线调制解调器以及工业控制系统等)。这些方案预编程了所需的USB软件,因此您不需要熟悉USB规范就能简易上手。通过本次网络研讨会,您将了解到如何轻松添加USB接口到传统的串口应用。
 
 
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