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内容介绍:“相变存储器技术引发存储器系统创新设计”是美光举办的第三场相变存储器网络研讨会,在前两场研讨会上,美光概述了下一代存储器技术PCM,并论述了PCM技术独一无二的可靠性。现在,让我们一同探讨PCM的独有功能,了解如何运用不同的系统设计方法设计现有的存储器系统。本场研讨会将帮助观众深入了解如何利用PCM存储器简化存储器系统设计,节省成本,提高效益。

主题:
相变存储器可靠性详解
内容介绍:相变存储器的存储单元是由化合物存储单元和选通晶体管两部分共同组成。由于这一特殊结构,相变存储器在数据保持方面具有与擦写次数的不相关性,而与环境温度相关的特性。在写入次数方面,10~100倍于今天的NOR和NAND型的存储器。同时具有对读取和写入干扰的免疫性。
在本次网络研讨会中,我们通过实验数据和理论分析,向您介绍相变存储器的可靠性知识,带领您深入了解这一存储技术,帮助您更好的评估PCM对系统设计的影响。

主题:
闪存测试的新方法
内容介绍:虽然闪存技术已经广泛应用,但是诸如多电平单位(MLC)等连续的研究进展的目标是实现更高的密度。同时,也出现了新的测量技术和功能:从用于开发的单颗晶体管分析到用于闪存生产的集成方案和自动化方案。
本期在线研讨会将首先回顾闪存技术测试基础,然后讨论FN(Fowler-Nordheim)和HEI(热电子注入)写入和擦除。接着讨论用于单颗闪存晶体管和闪存阵列测试的不同方面,包括标准晶体管特性分析、耐力和干扰测试。还将讨论MLC测试的脉冲保真度要求。这些应用的验证将使用吉时利最新的超快I-V测试方案以便更好地控制脉冲形状和幅度,进而非常适合于MLC闪存测试,并使用吉时利ACS软件以便管理测试场景的范围。
目标听众:
本期在线研讨会适合想了解闪存测试设置的人士和寻求测试方案的朋友参加。

主题:
绿色功率:一切从电源设计开始
内容介绍:高能效设计是实现更绿色环保电子产品和全球可持续发展的关键。半导体供应商正在引领这种趋势,并通过创新的电路设计、先进的工艺与封装技术、采用节能的拓扑架构以及系统级专业知识来优化从市电到电路板的电力输送过程。本场演讲报告将探讨在所有负载情况下都要求更高效率的新兴能效标准,并阐释AC-DC 电源解决方案如何满足这些严格的规范和推动更绿色的世界。
主题:
TI 电量计和高串电池应用方案
内容介绍:随着全球对原油需求的增长,地球气温上升。人们对环保意识的提升,新的替代能源利用。本次研讨会将重点介绍基于TI在高串动力电池系统应用解决方案,探讨TI在BMS新的技术,方便你对方案的选择,能更好的优化你的系统。
通过本次研讨会让你能了解TI以及新晔电子在BMS里有强大的技术支持和好的解决方案帮到你的设计。
本次研讨会重点介绍BQ246xx高串数LiFePO4(磷酸铁锂电池)充电器方案和BQ78PL114,BQ76PL53X好的保护,Power Pump技术平衡以及阻抗跟踪电量计量。

内容介绍:相变存储器是指一类基于相变材料存储信息的非易失存储器。相变存储器利用相变材料在两种状态下电阻值的变化存储信息。融NOR、NAND、RAM和EEPROM四大主流存储技术的优点于一身. 相变存储器提供位可修改、非易失性、高可靠性、向下工艺延展和快速写入等创新特性。
美光将连续举办3场网络研讨会,第一场将简要介绍相变存储器的基本原理、技术特性,以及这项新技术给存储系统带来的好处。接下来的两场研讨会将详细介绍相变存储器的优点和特性。

内容介绍:体积小巧,接口简单,设计容易,串行闪存被用于多个市场。但是,随着应用复杂程度不断提高,为满足新应用的性能要求,存储器亟待提高相关性能。几年来,受限于存储器的总体性能,特别是读写速度,采用串行闪存的应用设计遭遇巨大的挑战。
为了解决这个问题,提高存储器性能,各路存储器厂商纷纷开始研发两位和四位输入输出功能。
除多位输入输出外,恒忆还为客户带来在市场上独一无二的前沿功能,让您的应用设计实现效益最大化。欢迎参加本次在线研讨会,了解如何利用恒忆的非易失性配置寄存器和片内执行(XIP)两大独特功能提高存储器性能。
2010年5月7日,美光科技(Micron Technology,Inc.,)宣布完成对恒忆科技 (Numonyx B.V.)的收购。 Micron 是世界领先的先进半导体解决方案提供商之一。Micron依托全球性运营,制造和销售一系列DRAM、NAND和NOR闪存、以及其他创新存储技术、包装解决方案和和半导体系统,用于前沿计算、消费、联网和移动产品。

主题:
超快I-V器件特性分析基本原理
内容介绍:本期在线研讨会探讨在组件和工艺技术中日益重要的超快电流-电压(I-V)特性分析。常见应用包括闪存和相变存储器等非易失存储器(NVM)、绝缘体上硅(SOI)器件与复合半导体的等温特性分析以及高k电介质等新材料的瞬态特性。
超快I-V器件特性分析基础将主要介绍测量硬件和设置,包括探测台的接线。本期研讨会还将讨论典型的测试设置和常见误差源。最后,将给出一些器件测量的实例。
目标听众:
涉及材料、工艺和器件特性分析的学生、研究人员和工程师
需要了解这种有用的测量技术的实验室主管
负责器件和材料可靠性研究(WLR、ESD、闩锁效应latchup等)的工程师

内容介绍:相变存储器(Phase Change Memory),一个非挥发性计算机存储器也被称为PRAM、PCM 和 PCRAM,是一种新颖且前景看好的技术。 PRAM 使用具有独特行为的硫化玻璃,当给予特定应用的热能,可以使它在结晶和无定形两个状态之间切换。最近的技术可以再增加两个不同的状态,使存储容量加倍。
这个研讨会将提供PRAM存储器组件的物理原理和操作的基本概念。内容包括存储器组件的一般特性和测量技术的近况与比较,其中的R - Load方法和技术采用吉时利ultra-fast IV测试机台。
目标听众:这次研讨会主要针对初始接触PRAM存储器测试的测试工程师和测试工程经理,同时对有经验的工程技术人员也会有相当的帮助。
主题:
跨国企业内部的PCB系统设计
内容介绍:跨国企业内部的电子设计团队面临诸多艰巨的挑战,包括知识产权管理、供应链集成以及多个地点的协作。
使用Expedition Enterprise,公司可以充分利用内部的多学科设计团队资源,创建和访问全球性知识产权,从而有效地解决这些挑战。
你能从中学到什么
• 管理和利用库、约束和设计块形式的知识产权
• 在公司内部集成PCB设计过程的技术
• 在设计团队内部以及跨多学科团队的合作方法,包括电子/机械、FPGA/PCB、射频/模拟/数字和设计/制造等
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问答精选


演讲资料、问答精选
Q:PCM,其特有的应用特性有哪些?
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