内容介绍：随着技术的进步和应用需求的发展，嵌入式计算、嵌入式控制越来越受到更多的关注。盛博科技走专业化、国际化、标准化发展道路，专注于国际标准嵌入式计算机的开发、生产、销售和服务。20年来，积累了大量嵌入式控制丰富的经验和众多的产品。 本研讨会将讨论嵌入式控制中基于IA架构的各种标准及实现，总结可靠性设计的要点，结合行业典型需求，介绍盛博科技基于Intel最新嵌入式CPU（凌动及酷睿i系列）的最新产品及软硬件实现，展望嵌入式控制的未来。

内容介绍：PXI作为一个工业化的标准已经存在超过十年的时间。目前，基于PXI架构的测试测量仪器，已被广泛应用在各个领域。基于PXI架构的测试测量仪器从性能水平上来看，是完全可以取代传统仪器的。而在某些方面上，PXI仪器的性能甚至更胜一筹。 艾法斯所提供的PXI3000系列射频测试解决方案，经过几年来的发展与完善，已得到市场的广泛认可，并成为业界主流厂商的首选生产射频测试仪表。在中国，越来越多的工程师正基于PXI3000系列仪表开发着灵活、新颖和高效的测试测量解决方案。 这里我们将向您更详细的介绍Aeroflex PXI3000模块化通用射频测试平台，敬请参与。

内容介绍：大部分产品在研发阶段都需要进行热分析，目前红外热像检测是进行热分析最便捷、高效的方法；但在实际使用时，外壳遮挡、小目标、发射率等问题往往会阻碍红外热像仪拍摄准确、清晰的热图；本次技术交流针对这些难题，提出切实、有效的解决方案，使客户能够准确、快速地进行产品的热分析工作。福禄克热像仪，助您轻松搞定产品热分析。

内容介绍：艾法斯（Aeroflex）公司于2011年12月发布了其新一代S系列射频测试产品中的最新设备 - SGD射频信号源和SVA矢量信号分析仪。至此，艾法斯公司的S系列测试产品真正构成了满足多种测试应用的多频段、全功能的射频测试系统。本次讲座将向大家展示SGD和SVA的主要特点和技术优势，为听众多角度和全方位的呈现S系列新一代测试系统优异的射频品质、强大的测试功能和无与伦比的操作界面。本次讲座将主要由三个部分组成，第一部分介绍SGD和SVA的技术优势和使用特点，第二部分将介绍与SGD和SVA设备可并行使用的SCO、SPA模组和Aerolock互锁机构，最后一部分时间将由艾法斯技术支持团队负责回答各位听众针对产品或测试技术而提出的相关问题。

内容介绍：您是否正为如何精确测试射频微波功率而感到困扰？ 本次研讨会将给您带来罗德与施瓦茨公司全新的射频微波功率测试解决方案，并协助您解决工作中的几大问题，帮您得到精确的功率测试结果。 1. 如何选择合理的测试设备？（涉及到功率计与功率探头，接收机，以及软件） 2. 如何进行大功率测试？ 3. 如何进行多点/多通道功率监测？ 4. 如何进行小功率测试？ 5. 如何进行时域突发与脉冲功率测试？ 6. 如何进行功率测试结果的修正？（包括校准因子，反射系数，前端附件等）

内容介绍：多次可编程（MTP）非易失性存储器（NVM）可广泛的嵌入在多种应用，包括移动设备，电池管理IC，安全和加密内容保护的SoC，MEMS和传感器，以及RF/无线应用。成功将NVM IP导入生产的关键，在于硅的测试和认证。 这个研讨会将侧重于三个专题： • 检讨导入生产的整体策略，包括制造性，可靠性和监测方面的考虑 • 比较和对比包括商业和汽车级产品等不同的行业标准 • 了解Synopsys嵌入式非挥发性记忆体知识产权测试的策略和执行方法，如何提供SoC设计师可靠和合格的解决方案。

内容介绍：本课程将介绍物理信号的概念，为什么需要以及如何通过传感器等器件将它变为模拟/电气信号，然后用执行器、扬声器和电机等器件再将它变回物理信号，最后如何处理信号实现最高精度的再现。

内容介绍：大部分产品在研发阶段都需要进行热分析，目前红外热像检测是进行热分析最便捷、高效的方法。但在实际使用时，外壳遮挡、小目标、发射率等问题往往会阻碍红外热像仪拍摄准确、清晰的热图。本次技术交流针对这些难题，提出切实、有效的解决方案，使客户能够准确、快速地进行产品的热分析工作。

内容介绍：本研讨会探讨ADI公司的高速ADC行为建模工具ADIsimADC。我们将从定性角度说明ADIsimADC如何模拟ADC，何时及何处可以使用ADIsimADC，以及如何利用它来加快产品评估和系统原型开发。ADI公司诚挚邀请广大电子工程技术人员踊跃参加本次在线研讨会。