内容介绍：您是否正为如何精确测试射频微波功率而感到困扰？ 本次研讨会将给您带来罗德与施瓦茨公司全新的射频微波功率测试解决方案，并协助您解决工作中的几大问题，帮您得到精确的功率测试结果。 1. 如何选择合理的测试设备？（涉及到功率计与功率探头，接收机，以及软件） 2. 如何进行大功率测试？ 3. 如何进行多点/多通道功率监测？ 4. 如何进行小功率测试？ 5. 如何进行时域突发与脉冲功率测试？ 6. 如何进行功率测试结果的修正？（包括校准因子，反射系数，前端附件等）

内容介绍：多次可编程（MTP）非易失性存储器（NVM）可广泛的嵌入在多种应用，包括移动设备，电池管理IC，安全和加密内容保护的SoC，MEMS和传感器，以及RF/无线应用。成功将NVM IP导入生产的关键，在于硅的测试和认证。 这个研讨会将侧重于三个专题： • 检讨导入生产的整体策略，包括制造性，可靠性和监测方面的考虑 • 比较和对比包括商业和汽车级产品等不同的行业标准 • 了解Synopsys嵌入式非挥发性记忆体知识产权测试的策略和执行方法，如何提供SoC设计师可靠和合格的解决方案。

内容介绍：本课程将介绍物理信号的概念，为什么需要以及如何通过传感器等器件将它变为模拟/电气信号，然后用执行器、扬声器和电机等器件再将它变回物理信号，最后如何处理信号实现最高精度的再现。

内容介绍：大部分产品在研发阶段都需要进行热分析，目前红外热像检测是进行热分析最便捷、高效的方法。但在实际使用时，外壳遮挡、小目标、发射率等问题往往会阻碍红外热像仪拍摄准确、清晰的热图。本次技术交流针对这些难题，提出切实、有效的解决方案，使客户能够准确、快速地进行产品的热分析工作。

内容介绍：本研讨会探讨ADI公司的高速ADC行为建模工具ADIsimADC。我们将从定性角度说明ADIsimADC如何模拟ADC，何时及何处可以使用ADIsimADC，以及如何利用它来加快产品评估和系统原型开发。ADI公司诚挚邀请广大电子工程技术人员踊跃参加本次在线研讨会。

内容介绍：本次研讨会将以霍尔效应的测量为主题，介绍它们与半导体材料和器件特征分析的关系。霍尔效应测量系统通常用于测量半导体参数，例如载流子迁移率和载流子浓度、霍尔系数和导电率以及导电型。 参加本次研讨会可以了解到：  •  什么是霍尔效应测量？  •  哪些人员会用到霍尔效应测量？  •  推动霍尔效应测量需求的行业趋势是什么？  •  在选择霍尔效应测量所需的设备时应注意哪些关键问题？  •  什么技术有助于确保高质量测量？
目标听众： 建议研究纳米材料等新材料电气特性的材料学家和物理学家，及进行太阳能/光伏应用薄膜开发，从事复合半导体材料工作，或研究碳基器件特性的工程师、材料学家和物理学家，以及特性分析实验室的全体管理人员和半导体材料和测试新手参加本期研讨会。

内容介绍：“节能、环保”是当今世界发展的主题，超低工作电压、超低工作电流将成为未来半导体器件的发展方向。OKI MCU以业界最低的工作电压(1.1V)和极低的工作电流(0.15uA)为技术优势，打造了一条超微功耗的MCU产品线，必将能在未来新能源及手持仪器市场占据主流。本讲座主要讲述了OKI超低功耗单片机的优越性能及其在手持仪表和工业控制场合的典型应用。
ROHM 字段式LCD驱动芯片，现大规模应用于仪器仪表市场，其操作功耗和待机功耗远低于市场内同类产品，本讲座也介绍了低功耗LCD驱动芯片的使用方法和技术特点。

内容介绍：本期研讨会旨在帮助可靠性工程师理解和运用超快I-V方法实现先进偏压温度不稳定性（BTI）的测量。此研讨会的第一部分详细分析了当前超薄薄膜晶体管正BTI和负BTI（PBTI和NBTI）原理的相关理论。第二部重点介绍了测量挑战并且定义了捕捉性能退化和恢复的最佳超快I-V测量方法。参加研讨会的网友将了解： • NBTI和PBTI建模的现有理论  • 分析BTI性能退化和恢复的相关挑战  • 建模和过程控制的先进测量技术  • 超快I-V测量的限制，包括约翰逊噪声等  • 测量系统性能分析的诀窍
目标听众：本期在线研讨会的目标听众是从事半导体可靠性分析工作的人员。该研讨会材料对致力于超薄薄膜晶体管可靠性研究，负责开发测试系统和方法的学生、技术人员、工程师和实验室管理人员有较大帮助。

内容介绍：随着当今电子线路日益完善，需要的容限日益紧张，您必须以非常高的精度测量不同的参数，验证设计。作为全球领先的数据采集和分析专家，泰克DMM4000系列6位半、5位半台式万用表把温度计、电容表、计数器、通断测试仪和传统万用表的多种不同的功能和分析能力融合到一台仪器中，并提供了杰出的精度和性能。泰克DMM4000系列台式万用表不仅提供了高达0.0024%的VDC准确度，分辨率更是可达100pA和10μΩ，同时您甚至可以利用已获专利的分离端子插座允许只使用两条引线、而不是四条引线执行4线测量。

内容介绍：电阻率是材料的基本特性并属于常规的电测量项目。具体采用的测量方法取决于材料类型是导体、绝缘体还是半导体。本期研讨会详细说明了为获得最佳测量结果使用的各种电阻率方法和技术。
与会听众将了解整块材料的电阻率测量基础。测量方法的变化取决于材料是导体、绝缘体还是半导体。一些具体测量方法包括金属材料的四线电阻测量，绝缘体材料的体电阻率和表面电阻率测量，以及半导体材料的4点共线探测和范德堡测量法。除讨论这些测量方法之外，还详细介绍了与这些方法有关的测量技术。讨论的测量技术和误差源包括静电干扰和屏蔽、漏电流和防护、热电EMF和失调补偿等。除使用正确的方法和技术以外，还必须使用合适的仪器完成所需测量。
目标听众：
推荐参加本期研讨会的观众是：需要对太阳能电池、塑料、纸张、轮胎、半导体等产品进行电阻率测试的材料研究人员、研究实验室、物理学家、大学和公司。