内容介绍：您是否正为如何精确测试射频微波功率而感到困扰？ 本次研讨会将给您带来罗德与施瓦茨公司全新的射频微波功率测试解决方案，并协助您解决工作中的几大问题，帮您得到精确的功率测试结果。 1. 如何选择合理的测试设备？（涉及到功率计与功率探头，接收机，以及软件） 2. 如何进行大功率测试？ 3. 如何进行多点/多通道功率监测？ 4. 如何进行小功率测试？ 5. 如何进行时域突发与脉冲功率测试？ 6. 如何进行功率测试结果的修正？（包括校准因子，反射系数，前端附件等）

内容介绍：Silicon Labs公司新增添了100多款低功耗、小封装、可编程的时钟发生器和缓冲器，可满足对成本敏感、有大批量生产需求的消费、工业、通信和嵌入式领域的应用需求。 应用特征如下：
1. 消费类应用，如游戏机和数码相机，其大小和功耗是特别重要的考虑因素；2. 通信类应用，如小规模和家庭办公通信设备，性能是关键所在；3. PCI Express和基于x86架构的嵌入式计算应用更注重宽频率范围的嵌入式时钟和缓冲器。
Silicon Labs具有业界最广泛的时钟产品组合，能够满足你所有时钟产品的需要。

内容介绍：恩智浦半导体提供完善的逻辑产品系列。依靠多样的产品功能，可靠的品质保障以及合理的价格，恩智浦成为全球市场占有率最高的供应商。智能手机以及相关产品越来越受到人们的欢迎。恩智浦提供一系列高效高速的模拟开关，电平转换芯片以及电压比较器等逻辑产品，以满足多样的设计需求。

内容介绍：各厂家对HDMI芯片的要求，主要是快速，而要达到快速的目的，有些功能必需被移除，像是抗静电能力，及5伏的工作电压，因此终端厂家在设计产品时，就必需额外花心思去处理，尤其是要拿到HDMI的LOGO，中间要经过的认证手续非常烦琐。恩智浦针对这点，提出一个崭新的单一芯片方案，IP4786CZ32已经测试过CTS。且符合HDMI1.4规范，只要将IP4786CZ32放罝在接口端及HDMI芯片之间，它可以提高抗静电能力，处理电平转换，并增加控制讯号的趋动能力，即使客户使用质量较差的HDMI缆线，也不会影响讯号质量。期待您能在这次网络研讨会中有所收获。

内容介绍：大部分产品在研发阶段都需要进行热分析，目前红外热像检测是进行热分析最便捷、高效的方法。但在实际使用时，外壳遮挡、小目标、发射率等问题往往会阻碍红外热像仪拍摄准确、清晰的热图。本次技术交流针对这些难题，提出切实、有效的解决方案，使客户能够准确、快速地进行产品的热分析工作。

内容介绍：应来自能源之星及美国环保署等机构越来越高之要求，电源供应器的效率待机功耗越来越重要。以前我们所谈的空机待机功耗只是100mW~500mW，现在恩智浦超低功耗适配器待机电源方案能协助做到30mW，关于待机功耗我们建议用以下方法来达成： 1. 线性降频 2. 跳频 3. 丛式跳频 4. 一次侧侦测 5. 关掉PFC 6. 降低PMWIC及周边零件的功耗。 以上的方法若没有IC，那将很难达成。

内容介绍：本次研讨会将以霍尔效应的测量为主题，介绍它们与半导体材料和器件特征分析的关系。霍尔效应测量系统通常用于测量半导体参数，例如载流子迁移率和载流子浓度、霍尔系数和导电率以及导电型。 参加本次研讨会可以了解到：  •  什么是霍尔效应测量？  •  哪些人员会用到霍尔效应测量？  •  推动霍尔效应测量需求的行业趋势是什么？  •  在选择霍尔效应测量所需的设备时应注意哪些关键问题？  •  什么技术有助于确保高质量测量？
目标听众： 建议研究纳米材料等新材料电气特性的材料学家和物理学家，及进行太阳能/光伏应用薄膜开发，从事复合半导体材料工作，或研究碳基器件特性的工程师、材料学家和物理学家，以及特性分析实验室的全体管理人员和半导体材料和测试新手参加本期研讨会。

内容介绍：本期研讨会旨在帮助可靠性工程师理解和运用超快I-V方法实现先进偏压温度不稳定性（BTI）的测量。此研讨会的第一部分详细分析了当前超薄薄膜晶体管正BTI和负BTI（PBTI和NBTI）原理的相关理论。第二部重点介绍了测量挑战并且定义了捕捉性能退化和恢复的最佳超快I-V测量方法。参加研讨会的网友将了解： • NBTI和PBTI建模的现有理论  • 分析BTI性能退化和恢复的相关挑战  • 建模和过程控制的先进测量技术  • 超快I-V测量的限制，包括约翰逊噪声等  • 测量系统性能分析的诀窍
目标听众：本期在线研讨会的目标听众是从事半导体可靠性分析工作的人员。该研讨会材料对致力于超薄薄膜晶体管可靠性研究，负责开发测试系统和方法的学生、技术人员、工程师和实验室管理人员有较大帮助。

内容介绍：目前市场上对于USB桥接方案的需求极为殷切，Silicon Labs提供了多种支持USB转串口协议的单芯片桥接器解决方案，可以很容易的在您的设计中添加USB接口，并广泛应用至各式各样的产品（如个人医疗设备、手机和无线电话、智能卡和存储卡的卡片阅读机、个人数字助理、MP3播放器、条形码读取器、无线调制解调器以及工业控制系统等）。这些方案预编程了所需的USB软件，因此您不需要熟悉USB规范就能简易上手。通过本次网络研讨会，您将了解到如何轻松添加USB接口到传统的串口应用。

内容介绍：电阻率是材料的基本特性并属于常规的电测量项目。具体采用的测量方法取决于材料类型是导体、绝缘体还是半导体。本期研讨会详细说明了为获得最佳测量结果使用的各种电阻率方法和技术。
与会听众将了解整块材料的电阻率测量基础。测量方法的变化取决于材料是导体、绝缘体还是半导体。一些具体测量方法包括金属材料的四线电阻测量，绝缘体材料的体电阻率和表面电阻率测量，以及半导体材料的4点共线探测和范德堡测量法。除讨论这些测量方法之外，还详细介绍了与这些方法有关的测量技术。讨论的测量技术和误差源包括静电干扰和屏蔽、漏电流和防护、热电EMF和失调补偿等。除使用正确的方法和技术以外，还必须使用合适的仪器完成所需测量。
目标听众：
推荐参加本期研讨会的观众是：需要对太阳能电池、塑料、纸张、轮胎、半导体等产品进行电阻率测试的材料研究人员、研究实验室、物理学家、大学和公司。