内容介绍：多次可编程（MTP）非易失性存储器（NVM）可广泛的嵌入在多种应用，包括移动设备，电池管理IC，安全和加密内容保护的SoC，MEMS和传感器，以及RF/无线应用。成功将NVM IP导入生产的关键，在于硅的测试和认证。 这个研讨会将侧重于三个专题： • 检讨导入生产的整体策略，包括制造性，可靠性和监测方面的考虑 • 比较和对比包括商业和汽车级产品等不同的行业标准 • 了解Synopsys嵌入式非挥发性记忆体知识产权测试的策略和执行方法，如何提供SoC设计师可靠和合格的解决方案。

内容介绍：目前国内生产的医疗产品仅占全球3%，未来几年随着医疗产品市场迅猛发展，对医疗产品的性能要求也越来越高。针对市场需求，凭借支持低功耗、隔离、红外线接近感应和时钟应用的多种产品线，Silicon Labs提供全面的各类医疗电子解决方案。低功耗MCU系列产品适用于电池供电的便携式设备；隔离器、隔离门极驱动器和电流传感器有益于需要隔离以及相关认证的应用；而高精度定时、接近感应和电容触摸解决方案也是医疗电子解决方案的重要组成部分。所有这些产品都来源于同一家公司-Silicon Labs，对于医疗应用设计人员来说无疑大有裨益。

内容介绍：Silicon Labs公司新增添了100多款低功耗、小封装、可编程的时钟发生器和缓冲器，可满足对成本敏感、有大批量生产需求的消费、工业、通信和嵌入式领域的应用需求。 应用特征如下：
1. 消费类应用，如游戏机和数码相机，其大小和功耗是特别重要的考虑因素；2. 通信类应用，如小规模和家庭办公通信设备，性能是关键所在；3. PCI Express和基于x86架构的嵌入式计算应用更注重宽频率范围的嵌入式时钟和缓冲器。
Silicon Labs具有业界最广泛的时钟产品组合，能够满足你所有时钟产品的需要。

内容介绍：大部分产品在研发阶段都需要进行热分析，目前红外热像检测是进行热分析最便捷、高效的方法。但在实际使用时，外壳遮挡、小目标、发射率等问题往往会阻碍红外热像仪拍摄准确、清晰的热图。本次技术交流针对这些难题，提出切实、有效的解决方案，使客户能够准确、快速地进行产品的热分析工作。

内容介绍：您正在寻找一种低成本的高效方式来实现4K和多通道视频处理吗？视频领域正在向4K以上发展，需要进一步提高性能和带宽，系统开发更加复杂，成本也越来越高。 通过本次在线研讨会，了解Altera®器件产品和视频工作台怎样帮助您克服这些难题。您将了解到： • Altera FPGA降低了多通道视频处理应用的成本 • 视频工作台新的VIP组件库能够更灵活的实现未来的视频处理应用 • 可立即使用的参考设计完成4K分辨率上转换和下转换，帮助您迅速开始系统开发

内容介绍：本次研讨会将以霍尔效应的测量为主题，介绍它们与半导体材料和器件特征分析的关系。霍尔效应测量系统通常用于测量半导体参数，例如载流子迁移率和载流子浓度、霍尔系数和导电率以及导电型。 参加本次研讨会可以了解到：  •  什么是霍尔效应测量？  •  哪些人员会用到霍尔效应测量？  •  推动霍尔效应测量需求的行业趋势是什么？  •  在选择霍尔效应测量所需的设备时应注意哪些关键问题？  •  什么技术有助于确保高质量测量？
目标听众： 建议研究纳米材料等新材料电气特性的材料学家和物理学家，及进行太阳能/光伏应用薄膜开发，从事复合半导体材料工作，或研究碳基器件特性的工程师、材料学家和物理学家，以及特性分析实验室的全体管理人员和半导体材料和测试新手参加本期研讨会。

内容介绍：本期研讨会旨在帮助可靠性工程师理解和运用超快I-V方法实现先进偏压温度不稳定性（BTI）的测量。此研讨会的第一部分详细分析了当前超薄薄膜晶体管正BTI和负BTI（PBTI和NBTI）原理的相关理论。第二部重点介绍了测量挑战并且定义了捕捉性能退化和恢复的最佳超快I-V测量方法。参加研讨会的网友将了解： • NBTI和PBTI建模的现有理论  • 分析BTI性能退化和恢复的相关挑战  • 建模和过程控制的先进测量技术  • 超快I-V测量的限制，包括约翰逊噪声等  • 测量系统性能分析的诀窍
目标听众：本期在线研讨会的目标听众是从事半导体可靠性分析工作的人员。该研讨会材料对致力于超薄薄膜晶体管可靠性研究，负责开发测试系统和方法的学生、技术人员、工程师和实验室管理人员有较大帮助。

内容介绍：电阻率是材料的基本特性并属于常规的电测量项目。具体采用的测量方法取决于材料类型是导体、绝缘体还是半导体。本期研讨会详细说明了为获得最佳测量结果使用的各种电阻率方法和技术。
与会听众将了解整块材料的电阻率测量基础。测量方法的变化取决于材料是导体、绝缘体还是半导体。一些具体测量方法包括金属材料的四线电阻测量，绝缘体材料的体电阻率和表面电阻率测量，以及半导体材料的4点共线探测和范德堡测量法。除讨论这些测量方法之外，还详细介绍了与这些方法有关的测量技术。讨论的测量技术和误差源包括静电干扰和屏蔽、漏电流和防护、热电EMF和失调补偿等。除使用正确的方法和技术以外，还必须使用合适的仪器完成所需测量。
目标听众：
推荐参加本期研讨会的观众是：需要对太阳能电池、塑料、纸张、轮胎、半导体等产品进行电阻率测试的材料研究人员、研究实验室、物理学家、大学和公司。