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RIGOL DG5000系列6in1信号工作站带来的创新应用
时间:2010年08月26日
时间:2010年08月26日
内容介绍:RIGOL 新推出一款高端六合一信号工作站——DG5000系列函数/任意波形发生器。DG5000系列函数/任意波形发生器是一款真正意义上的双通道信号源,这款产品不仅在整体性能指标上赶超国际同类产品,同时集成了矢量信号调制,跳频信号输出等丰富功能,是一款多功能的高端信号源。本次演讲主要介绍本信号工作站的一些典型应用:如双通道信号源的典型应用、I/Q应用、扫频功能的应用(含RIGOL特色功能步进扫描)、突发功能在雷达中的应用、调频功能的应用等。希望通过这次演讲,能对您的测试工作产生更多的帮助。

内容介绍:“相变存储器技术引发存储器系统创新设计”是美光举办的第三场相变存储器网络研讨会,在前两场研讨会上,美光概述了下一代存储器技术PCM,并论述了PCM技术独一无二的可靠性。现在,让我们一同探讨PCM的独有功能,了解如何运用不同的系统设计方法设计现有的存储器系统。本场研讨会将帮助观众深入了解如何利用PCM存储器简化存储器系统设计,节省成本,提高效益。

主题:
相变存储器可靠性详解
内容介绍:相变存储器的存储单元是由化合物存储单元和选通晶体管两部分共同组成。由于这一特殊结构,相变存储器在数据保持方面具有与擦写次数的不相关性,而与环境温度相关的特性。在写入次数方面,10~100倍于今天的NOR和NAND型的存储器。同时具有对读取和写入干扰的免疫性。
在本次网络研讨会中,我们通过实验数据和理论分析,向您介绍相变存储器的可靠性知识,带领您深入了解这一存储技术,帮助您更好的评估PCM对系统设计的影响。

主题:
闪存测试的新方法
内容介绍:虽然闪存技术已经广泛应用,但是诸如多电平单位(MLC)等连续的研究进展的目标是实现更高的密度。同时,也出现了新的测量技术和功能:从用于开发的单颗晶体管分析到用于闪存生产的集成方案和自动化方案。
本期在线研讨会将首先回顾闪存技术测试基础,然后讨论FN(Fowler-Nordheim)和HEI(热电子注入)写入和擦除。接着讨论用于单颗闪存晶体管和闪存阵列测试的不同方面,包括标准晶体管特性分析、耐力和干扰测试。还将讨论MLC测试的脉冲保真度要求。这些应用的验证将使用吉时利最新的超快I-V测试方案以便更好地控制脉冲形状和幅度,进而非常适合于MLC闪存测试,并使用吉时利ACS软件以便管理测试场景的范围。
目标听众:
本期在线研讨会适合想了解闪存测试设置的人士和寻求测试方案的朋友参加。

内容介绍:相变存储器是指一类基于相变材料存储信息的非易失存储器。相变存储器利用相变材料在两种状态下电阻值的变化存储信息。融NOR、NAND、RAM和EEPROM四大主流存储技术的优点于一身. 相变存储器提供位可修改、非易失性、高可靠性、向下工艺延展和快速写入等创新特性。
美光将连续举办3场网络研讨会,第一场将简要介绍相变存储器的基本原理、技术特性,以及这项新技术给存储系统带来的好处。接下来的两场研讨会将详细介绍相变存储器的优点和特性。

内容介绍:大部分产品在研发阶段都需要进行热分析,目前红外热像检测是进行热分析最便捷、高效的方法;但在实际使用时,外壳遮挡、小目标、发射率等问题往往会阻碍红外热像仪拍摄准确、清晰的热图;本次技术交流针对这些难题,提出切实、有效的解决方案,使客户能够准确、快速地进行产品的热分析工作。

内容介绍:体积小巧,接口简单,设计容易,串行闪存被用于多个市场。但是,随着应用复杂程度不断提高,为满足新应用的性能要求,存储器亟待提高相关性能。几年来,受限于存储器的总体性能,特别是读写速度,采用串行闪存的应用设计遭遇巨大的挑战。
为了解决这个问题,提高存储器性能,各路存储器厂商纷纷开始研发两位和四位输入输出功能。
除多位输入输出外,恒忆还为客户带来在市场上独一无二的前沿功能,让您的应用设计实现效益最大化。欢迎参加本次在线研讨会,了解如何利用恒忆的非易失性配置寄存器和片内执行(XIP)两大独特功能提高存储器性能。
2010年5月7日,美光科技(Micron Technology,Inc.,)宣布完成对恒忆科技 (Numonyx B.V.)的收购。 Micron 是世界领先的先进半导体解决方案提供商之一。Micron依托全球性运营,制造和销售一系列DRAM、NAND和NOR闪存、以及其他创新存储技术、包装解决方案和和半导体系统,用于前沿计算、消费、联网和移动产品。

内容介绍:为了解决当下无线基带或者多媒体处理的大量运算要求,嵌入式处理器的并行处理能力以及复杂度不断增加。这也直接导致基于其上的编程复杂性大大增加,给嵌入式软件开发周期的控制带来非常大的挑战。
检验编写的代码效率的一个主要指标就是要看生成代码对架构特性的支持程度。一般情况下代码的优化需要的时间最长,如果没有好的开发优化流程的帮助,软件开发的时间和风险就会大大增加。
在这次讲座中,我们将会为你介绍当下嵌入式软件开发面临的最新挑战,然后会展示一套智能的开发优化流程来帮助你以最短的开发时间,最小的风险达成软件开发优化的目标。
这次讲座中,你会了解到:
1. 简介当下先进无线基带和多媒体处理的架构演进趋势
2. 嵌入式软件开发的主要挑战
3. 如何有效利用你的软件开发环境以最低的成本取得最好的结果
4. 如何基于纯C开发流程针对嵌入式架构实现高度优化的结果
此次讲座适合任何基于嵌入式架构开发软件的工程人员。

内容介绍:相变存储器(Phase Change Memory),一个非挥发性计算机存储器也被称为PRAM、PCM 和 PCRAM,是一种新颖且前景看好的技术。 PRAM 使用具有独特行为的硫化玻璃,当给予特定应用的热能,可以使它在结晶和无定形两个状态之间切换。最近的技术可以再增加两个不同的状态,使存储容量加倍。
这个研讨会将提供PRAM存储器组件的物理原理和操作的基本概念。内容包括存储器组件的一般特性和测量技术的近况与比较,其中的R - Load方法和技术采用吉时利ultra-fast IV测试机台。
目标听众:这次研讨会主要针对初始接触PRAM存储器测试的测试工程师和测试工程经理,同时对有经验的工程技术人员也会有相当的帮助。

内容介绍:本次研讨会主要介绍SHARC浮点处理器新成员SHARC ADSP-2147x 和ADSP-2148x系列芯片级别的特性,在低成本,低功耗方面的新特性,同时也秉从了SHARC处理器的强大的浮点处理性能,一流的性价比,大的片上存储器和丰富灵活的外设接口。通过新引入的这2款新的SHARC 处理器成员,ADI 的SHARC处理器能够满足从低功耗到低成本,高处理性能设计等各种应用场景,为产品设计者扩大了可选的范围。同时,我们还将介绍一些SHARC相关的的开发工具,以及我们第三方的产品和方案,所提供的支持和培训,这些都能够帮助客户减少开发的成本和时间,并使其产品成为世界一流的信号处理设计。
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演讲资料、问答精选
Q:PCM,其特有的应用特性有哪些?
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