内容介绍：多次可编程（MTP）非易失性存储器（NVM）可广泛的嵌入在多种应用，包括移动设备，电池管理IC，安全和加密内容保护的SoC，MEMS和传感器，以及RF/无线应用。成功将NVM IP导入生产的关键，在于硅的测试和认证。 这个研讨会将侧重于三个专题： • 检讨导入生产的整体策略，包括制造性，可靠性和监测方面的考虑 • 比较和对比包括商业和汽车级产品等不同的行业标准 • 了解Synopsys嵌入式非挥发性记忆体知识产权测试的策略和执行方法，如何提供SoC设计师可靠和合格的解决方案。

内容介绍：恩智浦致力于高效能组件的设计与推广，在标准组件的领域，也是拥有一定的稳定性与成熟度。这一两年来，恩智浦运用本身的设计能力与供货能力，开始朝向线性产品发展，其中一项最重要的产品便是低压差稳压器。产品线除了包含已被市场大量使用的稳压器之外，更提供超小型封装及超低压差的稳压器。所有的产品会在本次的研讨会做一次完整性的介绍。

内容介绍：2010 年4月中苹果推出旗下首款平板计算机iPad，短短八个月的时间，全球热销超过千万台，过去曾经被开发，也一度被市场洪流所淹没的平板计算机，因为iPad而再次大放异彩，相关的多点触控商机也自iPhone现身后应运而生。2010全球平板计算机市场由iPad 开启序幕后，2011年全球平板计算机市场将有突破性成长。
平板计算机让用户的操作、输入接口只剩下一片触控玻璃，带动了10吋、7吋等中小型面板需求的大量成长，触控面板厂商算是这波风潮中，最大的受惠者。此外，其他是镜头、G-Sensor、无线局域网络（WiFi）、电源、Memory等领域零组件，也持续看好市场需求。
解决方案，包括Controller IC，Momory等，以及整个市场的使用现况及未来发展都将在此为各位作简单的介绍及报告。

内容介绍：Silicon Labs公司新增添了100多款低功耗、小封装、可编程的时钟发生器和缓冲器，可满足对成本敏感、有大批量生产需求的消费、工业、通信和嵌入式领域的应用需求。 应用特征如下：
1. 消费类应用，如游戏机和数码相机，其大小和功耗是特别重要的考虑因素；2. 通信类应用，如小规模和家庭办公通信设备，性能是关键所在；3. PCI Express和基于x86架构的嵌入式计算应用更注重宽频率范围的嵌入式时钟和缓冲器。
Silicon Labs具有业界最广泛的时钟产品组合，能够满足你所有时钟产品的需要。

内容介绍：恩智浦半导体提供完善的逻辑产品系列。依靠多样的产品功能，可靠的品质保障以及合理的价格，恩智浦成为全球市场占有率最高的供应商。智能手机以及相关产品越来越受到人们的欢迎。恩智浦提供一系列高效高速的模拟开关，电平转换芯片以及电压比较器等逻辑产品，以满足多样的设计需求。

内容介绍：大部分产品在研发阶段都需要进行热分析，目前红外热像检测是进行热分析最便捷、高效的方法。但在实际使用时，外壳遮挡、小目标、发射率等问题往往会阻碍红外热像仪拍摄准确、清晰的热图。本次技术交流针对这些难题，提出切实、有效的解决方案，使客户能够准确、快速地进行产品的热分析工作。

内容介绍：本次研讨会将以霍尔效应的测量为主题，介绍它们与半导体材料和器件特征分析的关系。霍尔效应测量系统通常用于测量半导体参数，例如载流子迁移率和载流子浓度、霍尔系数和导电率以及导电型。 参加本次研讨会可以了解到：  •  什么是霍尔效应测量？  •  哪些人员会用到霍尔效应测量？  •  推动霍尔效应测量需求的行业趋势是什么？  •  在选择霍尔效应测量所需的设备时应注意哪些关键问题？  •  什么技术有助于确保高质量测量？
目标听众： 建议研究纳米材料等新材料电气特性的材料学家和物理学家，及进行太阳能/光伏应用薄膜开发，从事复合半导体材料工作，或研究碳基器件特性的工程师、材料学家和物理学家，以及特性分析实验室的全体管理人员和半导体材料和测试新手参加本期研讨会。

内容介绍：本期研讨会旨在帮助可靠性工程师理解和运用超快I-V方法实现先进偏压温度不稳定性（BTI）的测量。此研讨会的第一部分详细分析了当前超薄薄膜晶体管正BTI和负BTI（PBTI和NBTI）原理的相关理论。第二部重点介绍了测量挑战并且定义了捕捉性能退化和恢复的最佳超快I-V测量方法。参加研讨会的网友将了解： • NBTI和PBTI建模的现有理论  • 分析BTI性能退化和恢复的相关挑战  • 建模和过程控制的先进测量技术  • 超快I-V测量的限制，包括约翰逊噪声等  • 测量系统性能分析的诀窍
目标听众：本期在线研讨会的目标听众是从事半导体可靠性分析工作的人员。该研讨会材料对致力于超薄薄膜晶体管可靠性研究，负责开发测试系统和方法的学生、技术人员、工程师和实验室管理人员有较大帮助。

内容介绍：电阻率是材料的基本特性并属于常规的电测量项目。具体采用的测量方法取决于材料类型是导体、绝缘体还是半导体。本期研讨会详细说明了为获得最佳测量结果使用的各种电阻率方法和技术。
与会听众将了解整块材料的电阻率测量基础。测量方法的变化取决于材料是导体、绝缘体还是半导体。一些具体测量方法包括金属材料的四线电阻测量，绝缘体材料的体电阻率和表面电阻率测量，以及半导体材料的4点共线探测和范德堡测量法。除讨论这些测量方法之外，还详细介绍了与这些方法有关的测量技术。讨论的测量技术和误差源包括静电干扰和屏蔽、漏电流和防护、热电EMF和失调补偿等。除使用正确的方法和技术以外，还必须使用合适的仪器完成所需测量。
目标听众：
推荐参加本期研讨会的观众是：需要对太阳能电池、塑料、纸张、轮胎、半导体等产品进行电阻率测试的材料研究人员、研究实验室、物理学家、大学和公司。