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中国IC设计特刊
本期«中国IC设计特刊»与您见证国内IC设计十年蜕变，特别报道2011年中国IC设计公司成就奖暨CEO论坛，介绍本土IC公司的研发现状及热门产品，深度剖析IC产业的巨大变化和市场前景，从而促进国内IC设计公司加速发展。
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即将举行的研讨会
内容介绍：
您是否正为如何精确测试射频微波功率而感到困扰？ 本次研讨会将给您带来罗德与施瓦茨公司全新的射频微波功率测试解决方案，并协助您解决工作中的几大问题，帮您得到精确的功率测试结果。 1. 如何选择合理的测试设备？（涉及到功率计与功率探头，接收机，以及软件） 2. 如何进行大功率测试？ 3. 如何进行多点/多通道功率监测？ 4. 如何进行小功率测试？ 5. 如何进行时域突发与脉冲功率测试？ 6. 如何进行功率测试结果的修正？（包括校准因子，反射系数，前端附件等）
您是否正为如何精确测试射频微波功率而感到困扰？ 本次研讨会将给您带来罗德与施瓦茨公司全新的射频微波功率测试解决方案，并协助您解决工作中的几大问题，帮您得到精确的功率测试结果。 1. 如何选择合理的测试设备？（涉及到功率计与功率探头，接收机，以及软件） 2. 如何进行大功率测试？ 3. 如何进行多点/多通道功率监测？ 4. 如何进行小功率测试？ 5. 如何进行时域突发与脉冲功率测试？ 6. 如何进行功率测试结果的修正？（包括校准因子，反射系数，前端附件等）
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